无损探伤机微焦X射线无损检测设备
X-RAY无损检测仪,主要用于:半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、电子元器件、封装元器、集成电路、电容、
热敏电阻、手机电路、电池、电路板、电子产品内部结构是否变形、空焊、脱焊、断裂、移位、等非破坏性检测;
同时还可用于: 发热管、发热丝内部结构检测、铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等检测。
技术参数:
1、数字成像视场: 130X160mm(不同面积可订制)
2、像素间距:125um;(高分辨率成像系统)
3、间距:200-600mm;
4、A/D转换;16/bits
5、空间分辨率;10.LP/mm(高分辨率)
6、管电压:40-80kv;(微焦射线机)
7、管靶流:0.2-0.5mA;
8、电脑系统:windows10;
9、远程控制: 远程操作软件;
10、有线传输端口:千兆网口;
11、主机重量:210kg;
12、适配器输出电压:DC24V。
13、交流电源频率:50-60hz;